霍耳效应

当电流垂直于外磁场方向通过导电体时，在垂直于电流和磁场方向的物体两侧产生电势差的现象。1879年为美国物理学家霍耳(Edwin Herbert Hall, 1855—1938)所发现。电势差的大小与电流和磁感应强度的乘积成正比，而与物体沿磁场方向的厚度成反比。比例系数称霍耳系数，其符号取决于物体中载流子的符号，其数值则与载流子浓度有关。研究固体的霍耳效应可定它的导电类型及载流子的浓度等。一般说，金属和电介质的霍耳效应都很小，但半导体则较显著。利用半导体的霍耳效应可制成测量磁场强度的磁强计、微波技术及电子计算机中的元件、自动控制技术中的传感器等。